全自动COS芯片测试系统
我司自主研发的全自动COS芯片测试系统（型号：OA7000-COS）可实现全自动COS芯片测试，替代传统手动测试，全自动测试芯片发光功率、中心波长以及快、慢轴发散角。
系统主要功能模块包括自动取料、自动点水、自动测试和状态判定、自动擦水、自动放回原位或分类料盒、自动上传相关数据至数据库，以及手动调试功能模块。
该系统可通过数据库无缝兼容我司自主研发的全自动OCR字符识别系统，高效率代替传统人工通过高倍显微镜方式观察记录，使每一颗COS保持100%的追溯性。
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