高功率全自动COS芯片测试系统

全自动COS芯片测试系统

全自动芯片OCR字符识别系统

全自动FAC测试系统

高功率激光器COS老化设备

无锡奥普特自动化技术有限公司于2018年1月正式向国内市场投放自主研发的全自动高功率半导体激光器COS（Chip-On-Submount）芯片老化测试设备（型号：OA-BIT1500），该设备用于对COS芯片进行全自动老化测试，可以批量检测COS芯片的性能指标，保证了高功率半导体激光器的输出稳定性和长期可靠性。该设备完全打破了美国、德国等西方发达国家对该类设备的技术和市场垄断，相比于进口设备动辄几百万的售价，该系统的定价更接地气，完全符合国内行业发展的需求，而且我们拥有一支行业经验超过二十年的专业技术团队作为保障，可以为国内客户提供更快速的响应和更完善的售后服务。